先进封装是突破芯片“功耗墙、内存墙、成本墙”的关键路径。而先进封装量检测设备作为芯片制造的“火眼金睛”，则是破解先进封装良率瓶颈、提升工艺水平的关键。Venus 6系列产品可支持G4.5代基板，具备明场、暗场、透射、光致发光等多模态同步检测能力，并可依据客户需求选配3D AOI、Bump等先进封装关键检测模块，实现对凸点形态和三维形貌的识别。设备不仅填补了国内玻璃基板集成检测能力的空白，解决了现有设备仅支持单一结构检测、无法满足同步一体化量测的行业痛点，而且在关键尺寸精度、套刻精度及缺陷检测灵敏度等核心性能方面达到国际先进水平。

　　（贺娟芳）